X-光熒光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發(fā)試片中的元素,當(dāng)原子自激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時(shí),偵測(cè)所釋放出來(lái)的螢光,經(jīng)由分光儀分析其能量與強(qiáng)度後,可提供試片中組成元素的種類與含量。
XRF熒光光譜法優(yōu)勢(shì):
1、X射線熒光原理,無(wú)損、快速、準(zhǔn)確的檢測(cè)和鑒定材料成分;
2、銅材、鋼材、鋅合金、錫合金等各種合金元素成分分析;
3、高分辨率探測(cè)器,能夠檢測(cè)到幾十ppm的元素含量;
4、固體、粉末、液體等樣品可直接測(cè)試;
5、幾十秒可得出穩(wěn)定準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù);
6、測(cè)試過程簡(jiǎn)單、輸出報(bào)告多種格式、查詢篩選統(tǒng)計(jì)功能齊全;
7、FP法的譜圖對(duì)比分析方法,供應(yīng)商物料發(fā)生變化及時(shí)預(yù)警功能。
離子色譜法是利用離子交換的原理,使待測(cè)定的離子在流動(dòng)相與固定相間的不同親和力而得以分離,采用電導(dǎo)檢測(cè)器測(cè)定,根據(jù)各成分的保留時(shí)間定性,利用色譜峰面積定量的分析方法。檢測(cè)限可以達(dá)到ppb的分析水平。目前根據(jù)BS EN14582:2007標(biāo)準(zhǔn),就是氧彈燃燒利用離子色譜儀分析鹵素。
離子色譜法優(yōu)勢(shì):
離子色譜法采用化學(xué)測(cè)試,能夠有效全面測(cè)試樣品中的鹵素含量;
/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,均采用離子色譜法;
此方法測(cè)試數(shù)據(jù)更加真實(shí)可靠,可達(dá)到第三方公證機(jī)構(gòu)的參數(shù)要求;
此方法對(duì)于操作人員要求均低于其他化學(xué)法測(cè)試儀器;
儀器使用過程中相對(duì)測(cè)試成本低,耗材消耗量小
微信掃一掃